Este documento define una secuencia de ensayos que revela fallos en los módulos CFV que han ocurrido debido a la exposición en campo de ciclos térmicos durante muchos años. Este documento se ha realizado especialmente para fallos debidos a fatiga térmica de la fijación del chip fotovoltaico a alta concentración (HCFV: High Concentrator Photovoltaic), sin embargo, también puede aplicar, hasta cierto punto, a todos los fallos mecánicos asociados con la fatiga térmica para los ensamblajes sometidos a ensayo. En la Norma IEC 62108, el ensayo de cualificación de módulos fotovoltaicos incluye una secuencia acelerada de ciclo térmico en una parte del ensayo, sin embargo los parámetros de ese ensayo sólo representan un nivel de cualificación de exposición. Este procedimiento de ensayo aplica más esfuerzo y proporcionará un modo de ensayo comparativo para diferenciar módulos con durabilidad reforzada a la fatiga térmica y a sus esfuerzos mecánicos asociados.