Este documento establece un procedimiento para la evaluación de los niveles de limpieza de partículas en superficies sólidas en cuartos limpios y aplicaciones asociadas de ambiente controlado. En los anexos A al D se ofrecen recomendaciones sobre los métodos de ensayo y medición, así como información sobre las características de las superficies. Este documento se aplica a todas las superficies sólidas de los cuartos limpios y ambientes controlados asociados, como paredes, techos, suelos, ambientes de trabajo, herramientas, equipos y productos. El procedimiento de evaluación de la limpieza de superficies por concentración de partículas (SCP) se limita a partículas de entre 0,05 µm y 500 µm. Los siguientes aspectos no se consideran en este documento: - requisitos de limpieza y adecuación de las superficies a procesos específicos; - procedimientos para la limpieza de superficies; - Características del material; - se refiere a las fuerzas de unión interactivas o a los procesos de generación que suelen depender del tiempo y del proceso; - Selección y uso de métodos estadísticos para la evaluación y las pruebas; - otras características de las partículas, como la carga electrostática, las cargas iónicas y el estado microbiológico.